FPGA Peak (Min/Max) Erkennung

Artikelnummer: 250-181-003   Series/Model: eXpert / Peak (Min/Max) Detection

FPGA Peak (Min/Max) Erkennung
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FPGA Peak (Min/Max) Erkennung für Gage Digitizer / Oszilloskope

Hauptproduktmerkmale

  • Die erfassenden Daten werden direkt im FPGA (Field Programmable Gate Array) gespeichert und liefert dem Anwender die Spitzenwertinformationen
  • Das Datenvolumen und somit auch der PCI Daatenverkehr wird drastisch reduziert
  • Die Peak Information beinhaltet dem Maximal- und Minimalwert und deren Position innerhalb einer Kurvenform
  • Ein Kompakt Spitzenwert-Informationssatz benötigt ein Datenvolumen von nur 32 Byte
  • Hocheffizienter PCI Transfer durch die Aufsummierung der Peak Informationssätze in einem zirkulierenden Speicher innerhalb des FPGAs und anschliessendem periodischen Abfragen und Leeren durch die Steuersoftware mit einer Re-arm Zeit von 3 µ Sekunden nach Aufnahme der Kurvenform (oder kleiner bei langen Aufzeichnungen)
  • Kopmatibel zu den Gage SDKs (Software Development Kit) für C/C++

 

Die Gage eXpertTM Spitzenwerterkennungs-Technologie ermöglicht das Erfassen von Spitzenwerten innerhalb digitalisierter Signaldaten. Peak Detection ist eine sehr gebräuchliche Technologie zur Datenanalyse-und Reduktion.

Die erfassten Signaldaten werden innerhalb des CompuScope FPGAs analysiert und stehen dem Anwender als Spitzenwertinformations-Datensatz zur Verfügung

Traditionelle PC-basierende Waveform Digitizer liefern Rohdaten für Anwender-Applikationen, die anschliessend im Host-PC mit Technologien wie Peak Detection analysiert und weiterverarbeitet werden.

Oft überschreitet der hierbei erforderliche Datendurchsatz die Kapazität des Datenbusses oder die Geschwindigkeit der traditionellen Peak Detection Analyse reicht nicht aus.

Für diese Anwendungen bietet Gage als Option nun eine On-Board eXpert Peak Detection Firmware an. Die Firmware-Option ist für die neue Generation der HighPerformace Digitalisierer-Karten verfügbar.


Anwendungsbeispiele

  • Ultraschall Tests
  • Lidar Systeme
  • Partikel Zählung
  • Fiber-Optik Tests
  • Radar Tests
  • Blitzeinschlag Tests
  • Netzwerk-Analysen
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